晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为10
磁化率仪/磁化率天平
用于测量物质的磁化率(固体、液体和气体皆可)。只需少量样品(50mg-250mg),即可快速测量出顺磁和抗磁物质的磁化率。机器轻便(主机2.2kg),方便携带。
塑料密度测试仪DH-600
塑料密度仪-塑料密度测试仪DH-600采用一体注塑成型大容量测量配件;一体注塑成型透明水槽,耐摔耐破防腐蚀,测量时可清楚观察样品在介质中的情况;水中吊线采用0.5mm不锈钢材料,不弯不变形,与吊栏垂直不碰触水槽。
TC-DYB 电晕笔
英国舒曼,英国产38、40、42、44、46、48、50等不同张力的试笔.能准确地测试出塑料薄膜之表面张力是否达到试笔的数值.令使用者清楚了解此薄膜是否适合于印刷.复合或真空镀铝.有效地控制质量及减少因材质不合格所造成的工具延误.
TT212涂层测厚仪
TT212涂层测厚仪 涂层测厚仪TT212是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。